M-2數(shù)字式電阻率測(cè)試儀型號(hào)：M-2

M-2型數(shù)字式電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多種用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量片狀，塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，測(cè)量擴(kuò)散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測(cè)試夾具，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低，中值電阻進(jìn)行測(cè)量 
M-2數(shù)字式電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多種用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量片狀，塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，測(cè)量擴(kuò)散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測(cè)試夾具，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低，中值電阻進(jìn)行測(cè)量。 
儀器由主機(jī)，測(cè)試探頭（可選配測(cè)試臺(tái)）等部分組成，測(cè)試結(jié)果用數(shù)字表頭直接顯示。主機(jī)主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程。測(cè)試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，定位準(zhǔn)確，游移率較小，壽命長(zhǎng)。 
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠，半導(dǎo)體器件廠，科研單位，高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能的測(cè)試。特別適用于要求快速測(cè)量中低電阻率的場(chǎng)合. 
工作條件為： 
溫度： 
相對(duì)濕度： 60% ~ 70% 
工作室內(nèi)應(yīng)無(wú)強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾，不與高頻設(shè)備共用電源 
  
二·M-2型數(shù)字式電阻率測(cè)試儀 技術(shù)參數(shù) 
1. 測(cè)量范圍： 
電阻率：10 -2  ~ 102Ω-cm 
方塊電阻：10 -1  ~ 103Ω/□ 
電阻：10 -3  ~ 9999Ω 
2. 可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸 
直徑：15mm-100mm 
長(zhǎng)（或高）度：≤400mm 
3. 測(cè)量方位： 
軸向，徑向均可 
4. 數(shù)字電壓表 
量程：2V 
誤差: ：± 0.1% FSB ± 2LSB 
分辨力：10μA 
精度： 18位ADC ( 5 1/2 位) 
顯示：4位數(shù)字顯示，小數(shù)點(diǎn)自動(dòng)顯示 
5. 數(shù)控恒流源 
電流輸出： 直流電流 2μA~ 2mA, 2μA步進(jìn)可調(diào)，系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整。 
誤差：± 0.1% FSB ± 0.5LSB  
6. 四探針測(cè)試探頭： 
探針間距： 1mm 
探針機(jī)械游移率：± 1% 
探針：碳化鎢，直徑0.5mm 
7.電源： 
DC 4.5V ~8V 
功耗： < 1W 
電源適配器：輸入： 220V±10% 50Hz 
輸出：DC5V ± 10% 
8. 外形尺寸： 
主機(jī)： 170mm (長(zhǎng)) X 130mm (寬) X50mm(高) 

產(chǎn)品名稱：電阻式位移計(jì) 產(chǎn)品型號(hào)：SDW-300

SDW系列型電阻式（也稱電位器式）位移計(jì)可直接埋設(shè)在水工建筑物及其它結(jié)構(gòu)的混凝土內(nèi)，也可安裝在建筑物表面，可在惡劣環(huán)境下長(zhǎng)期監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)裂縫和接縫的開(kāi)合度。外置萬(wàn)向節(jié)允許一定程度的剪切變形。選購(gòu)配套設(shè)備，可組成SDW-B系列型電阻式雙向位移計(jì)、SDW-T系列型電阻式三向位移計(jì)、SDW-K系列型電阻式脫空計(jì)等，用于混凝土面板壩、堆石壩的脫空位移監(jiān)測(cè)及周邊縫、基巖軟弱夾層兩側(cè)巖體的錯(cuò)動(dòng)等雙向及三向裂縫監(jiān)測(cè)。